J200 LIBS元素分析系统

系统功能

J200 LIBS元素分析系统为高灵敏度和高准确性分析而设计，许多元素检测限可达ppm个位数，用于样品基质中多元素定量定性分析。J200实现了从氢元素到钚元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统分析方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复性。

J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS相结合，将剥蚀出的样品固体微粒直接送入ICP-MS系统做进一步分析，避免酸解等样品前处理过程带来的二次污染和误差引入。同时，实现ppb级至百分含量的测量范围，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。

工作原理

系统采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，通过短激光脉冲在样品表面产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。每种元素与LIBS的某一个或多个谱峰对应，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成；峰强度信息可用于量化样品中元素的含量。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。

J200 LIBS元素分析系统基于劳伦斯伯克利实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统分析快速、可靠、准确、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的多种应用环境。

检测范围

J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤、植物、矿石、生物组织、刑侦材料（玻璃、油墨等）、合金、半导体、绝缘体、塑料、薄涂层和电子材料等等。

检测元素种类具体包含：

常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化学周期表上大部分元素

有机元素C、H、O、N

轻元素Li、Be、Na等（ICP-MS难同时测量）

同位素（升级与ICP-MS 联用)

应用领域

常规土壤元素分析、土壤污染检测、刑侦微量物证分析、煤粉组分分析、矿石检测、生物组织分析、农产品分析、合金分析、宝石鉴定、各种材料分析等。

可靠硬件

优化等离子体光收集。J200 LIBS采用的聚光光学设计，将大量的等离子光耦合到检测模块，实现高灵敏度测量。

提高分析准确性和可重复性。J200的导航激光和自动传感器相结合，解决样品表面凹凸不平导致剥蚀不均的问题。激光稳定阀使到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。

系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将样品剥蚀颗粒送入ICP-MS系统，实现更多分析。弥补ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上多数ICP-MS联用。

系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路，实现固、液、气体样品室自动切换。

系统硬件采用模块化设计，方便更新。激光器和探测器可根据样品的种类及用户研究进行升级。

系统具备两个成像系统。广角成像用于整体观察样品，确定采样区域；另一成像系统用于放大样品选定区域进行采样。

激光能量和光斑大小连续可调，激光脉冲稳定一致，实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。

强大软件

系统软件能够对所有硬件进行控制。提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。

TruLIBS™数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线；各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒；允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。

系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。

具有单变量和多变量校准曲线制定功能。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好；多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的干扰，提高分析准确性。

数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能，可以对样品进行快速分类鉴别。

系统软件还可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。

产地：美国