品牌
经销商厂商性质
所在地
德图testo174H迷你型温湿度记录
面议美国tsi-AeroTrak® 内置泵远程粒子计数器6310
面议美国 tsi IAQ Calc 室内空气质量监测仪 7525
面议美国 tsi VELOCICALC 旋叶风速计 5725
面议8020MCBRN面罩防护评估测试系统
面议美国TSI41403质量流量计
面议自动滤料测试仪 3120过滤效率测试仪精选厂家
面议美国TSI-5815 微压差计 压差表 压差计便携手持
面议TSI 8380风量罩 气象仪器 风向仪 数字式风量罩 欢迎咨询
面议超细凝聚核粒子计数器3776 品质保障 操作简单
面议凝聚核粒子计数器 3772
面议美国TSI4045质量流量计
面议产品详情
TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移粒径谱仪被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量 标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪(1nm-DMA)组件后,SMPS粒径谱 仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm
以下特性和优势是基于由 3082 型静电分级器 、 1nm-DMA差分迁移分析仪 、 3777型纳米增 强仪 、3772型凝聚粒子计数器 等组件共同组成的SMPS扫描电迁移粒径谱仪。
特性和优势
高分辨率粒径分布
+ 64通道/10倍粒径
+ 1到50nm之间多于109通道
给您灵活度的组件设计
1nm到50nm的极宽粒径范围
+和3081A型长差分电迁移分析仪配套使用能够测量1nm到1um
三个数量级的粒径
化设计,将散逸损失降到,系统高度整合
通过气溶胶仪器管理(AIM)软件进行系统操作
离散颗粒物测量:多模态样品测量效果
应用
基础气溶胶研究
颗粒成核及生长研究
大气及气候研究
燃烧及发动机排放研究
过滤器及空气净化器测试
吸入或暴露舱研究
健康影响因素研究