日本涡流式探针电阻检测技术
时间:2021-06-10 阅读:164
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秋山科技(东莞)有限公司 -
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164次日本涡流式探针电阻检测技术-日本napson电阻检测仪EC-80P
测量目标
半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请与我们联系)
测量尺寸
无论样品大小和形状如何均可进行测量(但是,大于20mmφ且表面平坦)
测量范围
[电阻] 1m至200Ω・ cm
(*所有探头类型的总量程/厚度500um)
[抗剪强度] 10m至3kΩ / sq
(*所有探头类型的总量程)
*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)
(5)太阳能晶片:5至500Ω/□(0。 2至15Ω-cm)