日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N-秋山科技（东莞）有限公司手机版

详细介绍

日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N

产品概要

本产品量程极为宽广，z低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；
z高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的*产品，同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。

特点

￭量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。
￭搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)
￭提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
￭装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
￭光谱波宽、半波宽5nm

主要用途

￭ LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。
￭ LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。
￭车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。
￭作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。

日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N

技术规格

光亮采集	电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理	衍射光栅
光学系统	对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角	2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式
测定距离	350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
光谱波宽	5nm *半波宽
波长精度	0.3nm *Hg 波宽线上
测定波长范围	380 – 780nm
波长分解能力	1nm
测定模式	自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入
测定内容	分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1
演算内容	辐射亮度 Le : W･sr-1･m-2, 亮度 Lv : cd･m-2, CIE1931 色度坐标 xy, CIE1976 色度坐标 u’ v’, 三刺激值 XYZ, 相关色温度,偏差 CIE 表色系 2°/ 10°
*亮度测定范围(1) (2)*	2°：0.0005 – 1,500,000 cd/m2 　1°：0.0015 – 4,500,000 cd/m2 0.2°：0.0375 – 5,000,000 cd/m2 0.1°：　0.15 – 2,000,000 cd/m2
*亮度精度(1)**	±2% 以下
色度精度 *(1)**	±0.002
*重复精度: 亮度(3)**	1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.4% ： 0.005～0.1 cd/m² 0.3% ： 0.1 cd/m²以上
*重复精度: 色度(4)**	0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.0015 ： 0.005～0.1 cd/m² 0.0005 ： 0.1 cd/m²以上
偏光特性	亮度 : 1％以下, 分光辐射亮度 : 2％以下 (400 – 780nm)
*测定时间(5)**	NORMAL 模式: 约1 – 248秒 HIGH SPEED 模式: 约1 – 17秒
界面	RS-232C, USB 2.0
电源	AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率	约 36W
使用条件	温度: 5 – 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸 (W×D×H)	150×406×239mm
质量	约 5.5kg

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主要用途

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