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otsuka LED 表面划痕检查照明Barlight 530
¥40000otsuka LED 表面划痕检查照明Barlite 3A
¥40000otsuka涂漆表面划痕检查灯Barlight 2MW
¥40000search洁净室灰尘纤维可视化UV光源RG-UV
¥10000search荧光探伤用紫外线光源RG-UV (VR.2)
¥10000search 10μm灰尘颗粒检查灯RG-DUST
¥10000search粉尘检查光源RG-DUST(VR.2)
¥10000synos 850nm波段高输出 SLD光源LSS002/850
¥10000synos紧凑型 SM 输出 LD 光源 LSL011 系列
¥10000synos单模光纤输出紧凑型LD光源LSL011系列
¥10000FC连接器输出温控/高稳定性LD光源
¥10000日本synos高稳定测量用LD光源LSL002系列
¥10000日本adcmt光波计 8471
8471 使用 He-Ne 激光器作为参考波长,并且是迈克尔逊干涉仪型光波长计,因此可以进行高精度测量。因此,可以以高分辨率和高精度测量DWDM的LD发射中心频率。
测量速度高达10次/秒,非常适合调整振荡波长。
此外,偏差显示功能能够以高分辨率和高精度测量短时间波长变化。因此,它可以用作光谱仪和光谱分析仪的校准波长标准。
此外,还可实现LD的波长温度特性、波长电流特性等测量自动化。
测量波长范围:630 nm 至 1650 nm(182 THz 至 476 THz)
可按波长和频率显示
高速测量:10次/秒
感光度:-35 dBm (1200 nm-1600 nm)
可显示值、小值、偏差
多可保存 10,000 条数据
平均测量可达 100 次
配备USB接口和GPIB
日本adcmt光波计 8471
高分辨率/高精度测量
干涉仪方法可实现 0.001 nm (1 pm) 的高分辨率测量。此外,通过平均 10 次或更多,可以以 0.0001 nm (0.1 pm) 的分辨率进行测量。此外,由于使用 He-Ne 激光作为参考波长,因此可实现高达 2 ppm 的高精度测量。此外,He-Ne 激光器以高度稳定的波长振荡,确保长期高精度测量 2 ppm,无需校准。
规格
测量波长范围 | 630 至 1650 nm(182 至 476 THz) |
准确性 | ± 2 ppm ± 1 pm(在激光测量模式下) |
显示分辨率 | 1 纳米至 0.0001 纳米 |
显示单元 | nm(真空,标准空气),太赫兹 |
灵敏度 | -15 dBm、-20 dBm、-25 dBm、-35 dBm |
平均测量 | 设定次数:2~100次 |
展示 | 显示测量波长和测量过程中的和小波长 |
界面 | GPIB、USB |
记忆 | 10,000 条数据 |