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otsuka LED 表面划痕检查照明Barlight 530
¥40000otsuka LED 表面划痕检查照明Barlite 3A
¥40000otsuka涂漆表面划痕检查灯Barlight 2MW
¥40000search洁净室灰尘纤维可视化UV光源RG-UV
¥10000search荧光探伤用紫外线光源RG-UV (VR.2)
¥10000search 10μm灰尘颗粒检查灯RG-DUST
¥10000search粉尘检查光源RG-DUST(VR.2)
¥10000synos 850nm波段高输出 SLD光源LSS002/850
¥10000synos紧凑型 SM 输出 LD 光源 LSL011 系列
¥10000synos单模光纤输出紧凑型LD光源LSL011系列
¥10000FC连接器输出温控/高稳定性LD光源
¥10000日本synos高稳定测量用LD光源LSL002系列
¥10000日本yokogawa光波计 AQ6150B
AQ6150B 是基于迈克尔逊干涉仪的台式光波长计。
波长精度±0.7ppm
波长范围:900 至 1700 nm、1200 至 1700 nm、1270 至 1650 nm
测量时间 0.2 秒或更短(大约是 AQ6150 的两倍)
一次多可测量 1024 个波长的多波长型
增加了单波长类型
支持调制光和滤光片的测量
日本yokogawa光波计 AQ6150B
特征
模型 | 波长范围 | 波长准确性 | 值波长检测次数 | |
标准模型 空气质量6150B | 标准 | 第1270章1650nm | ± 0.7百万分之一 | 1024(多波长类型) 1(单身的波长类型) |
波长扩张 | 1200~1700纳米 | |||
宽带 | 900~1700纳米 |
AQ6150B 提供± 0.7 ppm 的精度,以满足光学元件和WDM 传输设备检测的精度要求。
AQ6150B基于内置波长参考光源极其稳定的光波长,通过实时校正,实现长期高波长测量性能。
AQ6150B 的小分辨率为 5GHz,可以同时高速、准确地测量每个输入多达 1024 个波长。
因此,它可以满足现在和将来WDM传输系统开发和生产的测量需求。
这种多波长批量测量能力还有助于提高光学器件生产的生产效率和成本。
例如,组合和测量多个光学设备会增加每小时测量设备的数量并提高生产量。
此外,通过测量系统的合理化,有望降低设备成本、内置光源的更换成本等维护成本。
检查晶圆和 LD 芯片输出可能仅测量单个波长。单波长型是适用于此类应用的低成本光波长计。
光传输系统和光收发器输出的以 10 Gbps、25 Gbps 甚至 100 Gbps 调制的光信号具有很宽的光谱宽度,因此可以使用不进行光谱分析的单波长光波长计进行精确测量。很难。
AQ6150B除了一般的CW光测量模式外,还具有进行光谱分析的调制光模式,可以准确测量调制信号等宽带光信号的中心波长。
这种调制光模式还可用于测量 AWG 等滤波器的中心波长。
AQ6150B内置自动增益控制功能,可根据输入功率自动调整电放大电路的增益。因此,即使是 -40dBm 的低输入信号也能限度地提高波长精度和测量速度。
高速测量和高处理能力对于提高生产吞吐量尤为重要,因为波长可变的 LD 和光模块调整和表征使用它们对每个设备执行数百个光波长测量。.. AQ6150B 可以在 0.2 秒内执行测量、分析,甚至将数据传输到 PC。这是我们传统模型的两倍。这极大地有助于提高生产量。在重复测量模式下,每秒多可以测量5次,这对于在实时监测波长的同时调整设备非常有用。
光波长计内置的波长参考光源(He-Ne激光器)需要定期更换,更换的频率和成本对光波长计的运行成本(生命周期成本)有很大影响,增加。
如右图所示,AQ6150B在推出时降低了初期投资成本,延长了波长参考光源的更换周期,并提供低价的更换服务,降低客户的生命周期成本。 .
借助 AQ6150B,您可以使用 GP-IB 或 ETHERNET 远程控制界面轻松构建自动测量系统。用于远程控制的控制命令基于测量仪器常用的可编程仪器标准命令(SCPI),所以使用横河的AQ6140系列光波长计和其他符合SCPI标准的光波长计。如果您正在使用,您可以轻松升级测量系统,而无需更改测量程序。