日本nfcorp阻抗分析仪 ZA57630

从电子元件和半导体设备到材料表征，我们满足各种阻抗测量需求

ZA57630是一款阻抗分析仪，基本精度为±0.08%，最大频率为36 MHz。
它配备了多种功能，并支持广泛的阻抗测量。

• 基本精度：±0.08%

• 频率范围：10 μHz ~ 36MHz

• 阻抗范围：10μΩ ~ 100GΩ （外部扩展测量模式）

• 测量的交流信号电平：0.01 毫伏方秒 ~ 3 毫磁振，0.1 微臂 ~ 60 毫安

• 直流偏置： -5 V ~ +5 V / -40 V ~ +40 V （>1 kHz）， -100 mA ~ +100 mA

• 测量时间：0.5 ms/点

• 测量参数： Z， R， X， Y， G， B， LS， LP， CS， CP， RS， RP， ΘZ， ΘY， D， DΕ， DΜ， Q， V， I， εs， εs′， εs“， μs， μs′， μs′， μs”， 频率

高速测量 业界最快的 0.5 ms/点

实现了业界最快的0.5 ms/点。
缩短生产线的节拍时间，提高测量工作的效率。
此外，通过增加要设置的测量时间，可以平均测量结果并降低噪声的影响。 您可以根据需要选择最佳测量时间。

日本nfcorp阻抗分析仪 ZA57630

4 种测量模式 广泛的 DUT

• 标准测量模式 （IMPD-3T）

• 高频测量模式 （IMPD-2T）

• 外部扩展测量模式 （IMPD-EXT）

• 增益相位测量模式 （G-PH）

标准测量模式 （IMPD-3T）

一种可在宽频率范围内实现高精度测量的模式。
测试引线和测试夹具可用于容纳各种形状的试样形状。
4 端子和 3 端子连接也很容易实现。

• 推荐频段：10μHz~10MHz

• 推荐阻抗值：1Ω~10MΩ

高频测量模式 （IMPD-2T）

可在 10 MHz 或更高的高频下实现稳定测量的模式。

推荐频段：10MHz~36MHz

• 推荐阻抗值：200mΩ~10kΩ

• 使用 N 型连接器的 2 端子连接

• 端口扩展功能即使在待测样品的接线较长的情况下也能实现稳定的测量。 可有效集成到恒温箱和检测设备中。

外部扩展测量模式 （IMPD-EXT）

通过使用施加高电压/大电流信号的功率放大器和用于测量小信号的前置放大器，可以执行仅靠该仪器无法处理的各种阻抗测量。

• 可测量阻抗范围 10μΩ ~ 100GΩ

• 用于测量超过千兆Ω的绝缘材料以及毫米Ω和微Ω量级的电线和铜箔等材料。

• 从我们广泛的放大器阵容中，我们可以提出与测量样品相匹配的组合。

注意：可测量范围受外部连接设备（如放大器）规格的限制。

增益相位测量模式 （G-PH）

一种可以测量传输特性的模式，例如滤波器和放大器。 将扫描信号施加到被测电路上，并以高精度测量其频率响应（增益、相位）。

• 频段：10μHz~36MHz

• 测量精度：0.01 dB 增益，0.06° 相位

• 动态范围 110dB（典型值）