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ditect图像处理高灵敏度数码高速相机HAS-DX
¥10000ditect配备图像传感器的高速摄像机HAS-D73
¥10000ditect图像处理用高灵敏高速摄像机HAS-D71
¥10000ditect图像处理用小型高速摄像机HAS-U1
¥10000ditect图像处理用高清高速摄像机HAS-U2
¥10000otsuka LED 表面划痕检查照明Barlight 530
¥40000otsuka LED 表面划痕检查照明Barlite 3A
¥40000otsuka涂漆表面划痕检查灯Barlight 2MW
¥40000search洁净室灰尘纤维可视化UV光源RG-UV
¥10000search荧光探伤用紫外线光源RG-UV (VR.2)
¥10000search 10μm灰尘颗粒检查灯RG-DUST
¥10000search粉尘检查光源RG-DUST(VR.2)
¥10000日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5
功能 (*) 为可选
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采用平板式开放式计数器,可计数高达 4000 cps 的光电子
・
能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品
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任何位置都可以通过点定测量进行测量。
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使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。
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通过使用Xe(氙)灯(*),可以以高灵敏度测量不易产生电子的物质。
目的
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有机EL和复制感光材料的电离势测量
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硬盘和磁带摩擦学研究
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半导体和引线框架表面氧化态的测量
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精密电子材料中分子级薄膜污染检测
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测量以下功能材料的电离势:
有机EL、有机太阳能电池、有机晶体管、复印感光材料、钙钛矿太阳能电池、量子点、碳纳米材料、催化剂材料、蓄电池、燃料电池、半导体材料(Si、GaN) 、GaAs等)、透明导电膜(ITO、FTO等)
日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5
产品分类 | 大气光电子产率谱仪 |
模型 | 交流-5 |
测量原理 | 大气光电子产率谱仪(检测部分:低能光电子计数法) |
光电探测器 | 平面开放式柜台 |
紫外线能量范围 | 3.4~6.2eV |
最小光量 | 1.0nW 或更低(5.9eV 时) |
最大光强度 | 500.0nW 或以上(D2 灯)/2500.0nW 或以上(选项:Xe 灯)(5.9ev 时) |
重复性(标准差) | 功函数0.02eV(样品:金板) |
紫外光源 | D2灯/Xe灯(可选) |
紫外光斑尺寸 | 4 x 4 mm或更小(由于聚光透镜的色差而因能量而异) |
最大光电子计数率 | 4000cps |
光谱仪 | 光栅式单色仪 |
最大样本量 | 面积180×180mm以下,厚度1±0.2mm以下 |
温湿度范围 | 温度范围15-35℃,湿度20-60%RH |
电源 | AC100V-240V |
外形尺寸 | 光源部分 LC-1:约 450(W) x 300(H) x 500(D)mm |
重量 | 光源部分 LC-1:约 35 kg |