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otsuka LED 表面划痕检查照明Barlight 530
¥40000otsuka LED 表面划痕检查照明Barlite 3A
¥40000otsuka涂漆表面划痕检查灯Barlight 2MW
¥40000search洁净室灰尘纤维可视化UV光源RG-UV
¥10000search荧光探伤用紫外线光源RG-UV (VR.2)
¥10000search 10μm灰尘颗粒检查灯RG-DUST
¥10000日本atto小型桌面照射装置WUV-M20
¥20000日本OMT超宽量程发光计 S009
¥40000日本OMT便携式近红外分析仪 M020/M022
¥40000日本mcrl便携式光泽仪GMX-102H1
¥20000日本pnp红外光谱仪Tera Prospector
¥80000motoyama软X射线离子发生器SXN-10V
¥36800synos 850nm波段高输出 SLD光源LSS002/850
这是一款 850nm 波段的高输出、低相干光源,非常适合光互连领域的各种光学应用测量。
采用高输出型850nm SLD(超发光二极管)作为光源,实现约2mW的高输出(APC-SM光纤端)。此外,由于元件温度控制,它具有高稳定性。
由于它是低相干光源,因此不易受到反射干扰,因此适用于光纤对准引起的损耗测量,以及作为 NFP 和 FFP 测量的光源。
使用高输出 SLD(超级发光二极管)的高输出、低相干光源
宽波段,中心波长为 850nm±20nm,半峰全宽约为 30nm(典型值)。
由于元件温度控制,通电后 1 小时内老化后 1 小时内典型值为 0.5% 或更低,12 小时内典型值为 2% 或更低。
用于测量聚合物光布线波导插入损耗的光源
用于评估光配线波导和光纤的传播特性的光源
通过光入射到光电探测器上来测量光学特性的光源
另外,光互连领域中用于测量各种光器件和光模块的光学特性的光源。
其他用于通用光学测量的近红外光源
synos 850nm波段高输出 SLD光源LSS002/850
光输出 | 约2mW(APC-SM光纤输出端) |
---|---|
光输出方式 | FC连接器输出 |
光源 | 850nm高功率SLD(超级发光二极管) |
光源中心波长 | 850nm±20nm |
波长宽度 | 典型值 30nm(半峰全宽) |
输出稳定性 |
|
电源 | AC100V±10%,50/60Hz 产品配置 |
稳定850nm SLD光源,带温控 LSS002/850主机 1套
1 根电源线
1 个电源键