激光平面干涉仪XQ15-GI 显微镜

XQ15-GI激光平面干涉仪XQ15-GI 显微镜

参考价: 订货量:
5000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-05-31 09:05:23
638
属性:
适用范围:计量所,研究所,高校,企业,工厂;物镜放大倍数:4X;仪器放大倍数:40X;重量:26000g;分辨率:10微米;观察对像:其他;光源类型:其他;目镜放大倍数:10X;目数:三目;
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产品属性
适用范围
计量所,研究所,高校,企业,工厂
物镜放大倍数
4X
仪器放大倍数
40X
重量
26000g
分辨率
10微米
观察对像
其他
光源类型
其他
目镜放大倍数
10X
目数
三目
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上海无陌光学仪器有限公司

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产品简介

XQ15-GI 激光平面干涉仪
检测平面平晶平整度*仪器,高精度

详细介绍

产品简介:
1、防震性能好、有*的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品,大容量的
2、工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

 

XQ15-GI 激光平面干涉仪

技术参数:
1、第1标准平面(A面),工作直径D1=φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
2、第二标准平面(B面),工作直径D2=φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
3、准直系统:工作直径φ146mm,孔径F/2.8,焦距f=400mm
4、测微目镜:焦距f=16.7mm;
5、视场角:2W=40?;放大倍数β=15X
6、成像物镜:D=7,F=16
7、光源规格:ZN18(He-Ne)
8、干涉室尺:φ480*380*285mm

可选配摄像装置

 

XQ15-GI 激光平面干涉仪

技术参数:
1、第1标准平面(A面),工作直径D1=φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
2、第二标准平面(B面),工作直径D2=φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
3、准直系统:工作直径φ146mm,孔径F/2.8,焦距f=400mm
4、测微目镜:焦距f=16.7mm;
5、视场角:2W=40?;放大倍数β=15X
6、成像物镜:D=7,F=16
7、光源规格:ZN18(He-Ne)
8、干涉室尺:φ480*380*285mm

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