电镀件镀层测厚仪可以同时间测量多至层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是zui多测量两个正离子的药水浓度测量分析。采用数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件、表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等等 。

电镀件镀层测厚仪 X射线荧光镀层测厚仪 金属零件镀层厚度测量仪主要特点
　　★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品
　　★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
　　★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。

镀层测厚仪X-Strata920特点：

可测元素：钛Ti22---铀U92间各元素；

可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；

测量时间约10秒，快速得出测量结果；

测量结果精确到微英寸；

测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；

提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；

提供NIST认证的标准片；

享有的服务与支持。

测厚范围：取决于具体的应用。

测量精度：

膜厚≤20μin(0.5um)时，测量误差值为：*层±1μin，第二层±2μin，第二层±3μin

膜厚＞20μin(0.5um)时，测量误差值为：*层±5%，第二层±10%，第二层±15%