检测范围： 

粒径范围 0.3nm-10.0μm

ZETA电位 +/- 500mV

亚微米粒径电位检测仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。

亚微米粒径电位检测仪优势

1、APD&PMT双检测器；

2、多角度检测（multi angle）模块；

3、可搭配不同功率光源；

4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；

5、钯电极；

6、精确度高，接近样品真实值；

7、复合型算法：

 高斯（Gaussion）单峰算法的Nicomp多峰算法自由切换

 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换

8、快速检测，可以追溯历史数据；

9、结果数据以多种形式和格式呈现；

10、符合USP,CP等个多药典要求；

11、无需校准；