TSM超细颗粒粒度分析仪是一种基于消光法原理的新型颗粒粒度分析仪器，用于测量超细颗粒的粒度分布。本仪器由主机，计算机和打印机，仪器操作软件等组成。仪器具有操作简单，测量时间短，操作软件良好的人机对话界面等优点。可广泛用于电子，光学，化工，医药等行业测量超细固体颗粒、悬乳剂、悬浮液等的颗粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方图形式给出被测颗粒的粒度分布和累积分布的测量结果，以及D₃₂， Dv₅₀等多种平均粒径和比表面积。

主机内包括光源，光学系统，测量样品池，光电信号转换及放大系统，A/D数据采集卡等。主机输出信号通过USB电缆与计算机的USB口相连接，计算机对主机测量进行控制和数据处理，并打印输出结果。

技术特点：

1、大功率白色光源

2、采用国产光谱接收器

3、集多年研究之成果，*消光理论的完美应用

4、*反演算法，保证颗粒测量的准确

5、USB接口，仪器与计算机一体设备，10.8寸触摸屏，直接显示数据与粒径分布，可连接U盘、打印机、鼠标等。

6、微量固定样品池，超高感应灵敏度，仅需少量样品

7、软件个性化，提供测量向导等众多功能，方便用户操作；

8、测量结果输出数据丰富，保存在数据库中，能用任意参数，如操作者姓名，样品名，日期，时间等进行调用分析，与其他软件实现数据共享；

9、仪器造型美观，体积小重量轻；

10、超细颗粒粒度分析仪测量精度高，重复性好，测量时间短；

11、软件提供众多物质折射率供用户选择，满足用户查找被测颗粒折射率要求；

12、考虑到测试结果的保密要求，只有*操作者才能进入相应数据库读取数据和处理；

技术参数：