清洁度检测空白试验

清洁度检测空白试验

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2022-06-21 21:22:33
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英菲洛精密科技(苏州)有限公司

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产品简介

清洁度检测空白试验重量限值:低于假定分析重量的10%注释:在非受控的环境条件下(非受控的湿度和温度),使用一个四位天平,Z小可空白试验值为0.3mg。因此为了满足10%标准,在部件试验期间应当至少收集到3mg。

详细介绍

清洁度检测空白试验

1、重量限值:低于假定分析重量的10%
注释:在非受控的环境条件下(非受控的湿度和温度),使用一个四位天平,蕞小可空白试验值为0.3mg。因此为了满足10%标准,在部件试验期间应当至少收集到3mg。

2、颗粒数限值:按照相关尺寸,小于假定或者规定数量的10%,各个计算数字均下舍入,
示例:
对于一个粒度,规定数量为16,16*10%=1.6 舍入值=1
结论,空白可接受一个微粒
注释:空白检验文件中所规定的粒度应当尽可能接近部件所能接受的蕞大粒度,并且予以选定,从而能够计算出有效的微粒数量。

3、蕞大颗粒:IS0 16232-10粒度范围的微粒刚刚低于假定或者规定蕞大颗粒的二分之一
示例:蕞大可接受粒度X=350um,350um/2=175um  
这是ISO 16232-10所规定的粒度等级G,紧接着较低粒度等级为F级,也就是说对于空白来说,没有微粒大于100um。

4、如果空白水平超过了10%,那么可以提高分析的试验部件的数量,从而可以收集到更多的微粒,以便来满足10%的极限。

关于清洁度检测空白试验及衰减测试详情,请咨询供应商代表,我们将竭诚为您服务!

 


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