微量分析天平

XPE26/56微量分析天平

参考价: 订货量:
60 1

具体成交价以合同协议为准
2022-07-21 09:39:35
368
属性:
加工定制:否;仪器精度:克及以上;仪器种类:分析天平;
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产品属性
加工定制
仪器精度
克及以上
仪器种类
分析天平
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倍迎电子科技(上海)有限公司

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产品简介

微量分析天平专业级全自动校准技术,温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果.

详细介绍

•StaticDetectTM微量分析天平静电检测技术可以检测样品和/或容器上的静电荷,并提供警告

•LeveIGuideTM 水平向导,在天平未处水平时提供警告,并在触摸屏上显示完整的说明和红/绿色实时图形化水平泡

•proFACT专业级全自动校准技术,温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果

•User Management用户管理功能,设置不同天平菜单的进入权限

•MinWeigh小称量值功能,提供符合质量法规的称量帮助

•TestManagerTM 测试管理内置固件中进行符合SOP的日常测试

•*可拆卸、清洗的防风罩设计,实现快速清洁

•显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀

•标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232 和PS/2通讯接口选件插槽,便连接打印机、电脑等外围设备

•符合GxP规范的称量结果输出,获得完整的、可追溯的称量信息

微量分析天平

 

XPR2 U

XPR6UD5

XPR2

XPR10

XS3DU

XPE26

大秤量

{g}

2.1

6.1

2.1

10.1

0.8/3.1

22

可读性{mg}

0.0001

0.0005

0.001

0.001

0.001/0.01

0.001

重复性(sd){mg}

0.00015

0.0003

0.0005

0.0004

0.0008/0.006

0.0007

线性偏差

{mg}

0.0001

0.003

0.003

0.003

0.01

0.002

典型稳定时间{s}

10

8

8

8

6

3.5

称盘尺寸(WxD

{mm}

Ø16

Ø27

Ø27

Ø27

Ø27

40x40

 

DR=变量程   DU=双量程    Sd=标准偏差

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