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直流电压电流源/监控器6240B不仅保持了多年来在半导体测试中使用的6240A的性能，而且还新采用了高速响应脉冲源和测量功能以及具有以下功能的低电阻测量功能：测试连接器和其他零件的接触电阻。半导体的尺寸趋于逐年减小。为了精确测试其特性，必须使用低电流进行测量以防止自发热。6240B通过执行*小脉冲宽度为50 µs的脉冲源并以1 µs的分辨率进行测量来满足这样的命令。即，它可以向半导体提供电压或电流，从而抑制其在测量期间的自热。 另外，通过逐渐增加脉冲宽度进行测定，可以进行温度依赖性特性评价。为了无损失地传输电信号，必须测量电子设备中零件（例如连接器，线束和分流电阻器）的接触电阻。特别是，不同的金属接触会产生热电动势，从而导致测量误差。 6240B能够根据JIS C5402“电子设备用连接器的测试方法”在20mV或更低的电压下进行低电阻测量。通过使用抵消热电动势的内置功能，可以高度精确地执行此测量。 | ||||||||||||||||
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