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镀层测厚光谱仪
U-7200 镀层厚度检测仪 产品型号
1、产品型号 |
型号: U-7200 光谱分析仪 配置探测器X光管高压电源U-7200AMPTEK Si-PIN X-123(美国进口)科颐维Spellman(美国进口) |
二、仪器简介
2.1 仪器概述 | ||
U-7200 镀层膜厚分析专用X射线荧光光谱仪是公司经过2年研发,专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型,三重射线防护系统;人性化操作界面;的VisualFp基本参数法分析软件,可不用标准样品标定,即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。 | ||
2.2 性能优势 | ||
*超高分辨率、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 *易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果 *有助于识别镀层成分的创新型功能 *机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室 *按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的精确结果 *使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书 *用户通过CCD及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心 *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享 *有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用
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2.3 仪器技术指标 | ||
1、仪器尺寸:380(W)x372(D)x362(H)mm 2、zui低检测厚度:0.005um 3、检测厚度上限,50 - 70um(视材料而定) 4、zui多测试层数:8层 5、测量时间 :30-200s ( 系统自动调整 ) 6、分辨率:见下面探测系统详细参数说明 7、准直器:可选择多种定制切换 8、滤光片:可选择多种定制切换 9、CCD观察:260万像素高清CCD 10、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz 11、额定功率:350W 输入电流:4.0A(zui大) 输出电压: 0 -50KV &1mA zui大功率:50W 电压调整率:0.01% (从空载到满载) 电流调整率:0.01% (从空载到满载) 纹波系数:0.1% (P-P值) 8小时稳定性:≤0.05% | ||
3.4 高分辨率CCD | ||
260万像素的高清CCD,可有效的实时观察测试区域状况,并拍下物料照片,作为检测报告的组成部分。 | ||
3.5 散热系统 | ||
高效三维散热系统,大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。 | ||
3.6 防辐射安全系统 | ||
有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用 |
四、U-7200 镀层厚度检测仪 仪器软件配置
4.1 仪器操作软件功能 |
功能特点 |
1、预置多条工作曲线,涵盖铜基体、铁基体、锌基体等基体类型的常见镀层,可满足用户常规镀层测量的要求; 2、VisualFp基本参数法分析软件,在分析镀层厚度的同时分析基材及镀层成分含量,实用价值大大超出客户的想象空间; 3、人性化的软件界面与操作方法,使用图形显示技术,既方便又直观;结合大量操作经验优化操作步骤,极大方便用户; 4、完善的安全连锁功能:配合硬件电路的防护措施,在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受X射线伤害; 5、数据管理:由数据库支持的专业化报表生成、查询打印等功能极大方便企业管理; 6、智能化软件保护,避免不当操作对光谱仪的损伤,延长仪器使用寿命; 7、数据自动保存:所有样品测试后的数据均会自动保存,测试结果具有可追溯性; 8、稳定性自检功能:可即时对仪器当前稳定性进行自动检测; 9、软件具有对多次测试结果的统计功能,极大地方便客户管理。 |
五、仪器的外围设备
5.1 仪器标配设备参数 |
5.1.1计算机 CPU:in双核 内存:4G 硬盘:500G 显示器:19英寸 5.1.2喷墨打印机 彩色喷墨印机 5.1.3仪器随机配件及技术资料 测试薄膜 50片 保修卡 一份 合格证 一份 仪器操作手册 一本 |
六、及售后服务 |
1、为客户免费提供操作培训,培训期一至三天。 2、整机保修一年,全国联网售后保修,并终身提供技术服务支持。 3、保修期内的非人为因素仪器损坏,免费维修。
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