纳米材料粒度测试方法大全
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级（1~100 nm），或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪重要战略性高技术材料之一”。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效应将为新材料的开发应用提供崭新思路。
EPMA-1720 Series岛津电子探针EPMA-1720 Series
品牌
经销商厂商性质
所在地
设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析
X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜
图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。
从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。
同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像
在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。
通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。
只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。
只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级（1~100 nm），或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪重要战略性高技术材料之一”。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效应将为新材料的开发应用提供崭新思路。
测量要求 扫描面板探针表面三维形貌，提取profile测量探针顶端的磨损情况