介电常数介质损耗测试仪工作原理：

测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗测试仪电感：
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

介电常数介质损耗测试仪技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm
 

介电常数介质损耗测试仪技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm
 

多项技术：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 
计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低， Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 

介电常数介质损耗测试仪主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ～ 1023 ，  
固有误差  ≤ 5 ％ 
工作误差  ≤7％ 
电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  
电容直接测量范围  1 ～ 200pF  
主电容调节范围  18 ～ 220pF  
主电容调节准确度 ± 1 ％  
信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  
频率分段 （ 虚拟 ）  100 k～ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

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