GDAT-B工频介电常数介质损耗测试仪(采用西林电桥)
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BDAT-B型高压电容电桥
主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。
主要可以测量电容器,互感器,变压器,各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tg)和电容量( Cx)以,其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。
由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器,并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起,所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损(tg)及介电常数(ε)。
桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。
桥体内附电位跟踪器及指另仪,外围接线及少。
桥体采用了多样化的介损测量线路。
技术指标
测量范围及误差
在Cn=100pF R4=3183.2(?)(即10K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF
介质损耗tg? 0~1 ±1.5%tg?x±0.0001
在Cn=100pF R4=318.3(?)(即1K/π)时
测量项目 测量范围 测量误差
电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF
介质损耗tg? 0~0.1 ±1.5%tg?x±0.0001
Cx=R4×Cn/R3
tg?=ω?R4?C4
电容量及介损显示精度:
电容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。
介 损: ±0.5%tg?x±1×10-4
高压电源技术特性
电压输出:0~5000V/50Hz
高压电流输出:0~10mA
内置标准电容器
电容量为100pF
tg小于5X10-5
介电常数介质损耗试验仪
介电常数介质损耗试验仪:GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪的详细资料:
一、 介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
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