gdat-c新型介电常数介质损耗测试仪
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介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~60MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
2 主要技术指标:
2.1 测试信号频率范围:10kHz~60MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五位有效数显。
2.2 Q值测量范围:1~1000四位数显,分辨率0.1Q。分100、316、999三档,量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差:±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围:0.1µH~1000mH。
2.5 电感测量误差:≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性:
2.6.1可调电容范围:40pF~500 pF。
2.6.2 精确度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4残余电感值:约30nH。
2.7 Q预置功能:Q预置范围:1~1000均可。
1工作特性
1.1 平板电容器:
1.1.1 极片尺寸:
c类-38:Φ38mm.
c类-50:Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率:
≥8mm, ±0.002mm
1.2 夹具插头间距:
25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
≤2.5×10-4
附表二,LKI-1电感组典型测试数据
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
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