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直流式探针测试仪简介:
采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
具有测量范围宽、精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、外形美观、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
BEST-300C 型材料电导率测试仪是运用四探针测量原理测试试导体、半导体材料电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。
主机主要由数控恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选;电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换:仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便可靠;具有零位、满度自校功能;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电锂电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
直流式探针测试仪参数特点:
1. 便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;
2. 基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。
3. 精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%
4. 整机测量相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%
5. 四位半显示读数;八量程自动或手动测试;
6. 测量范围宽: 电阻:10-4Ω~105Ω ;方阻:10-4Ω/□~105Ω/□;
7. 正反向电流源修正测量电阻误差
8. 恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。
9. 可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。
10. 校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。
11. 厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。
12. 自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。
13. 双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.
14. 具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。
15. 比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。
3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。
16. 测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。
17. 丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据