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四探针导电材料电阻率测试仪在测试过程中,在满足基本条件下可以不考虑探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置等因素。四探针导电材料电阻率测试仪自动修正,降低了其对测试结果的影响,从而提高了测量结果的准确度。通过采用四探针双位组合测量技术,将范德堡测量方法应用到直线四探针上。利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量,其最后计算结果能自动消除由样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素所引起的,对测量结果的不利影响。适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表
用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
电阻测量范围:
1、电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、
电 阻:1×10-5~2×105Ω
电导率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 最小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V
测量精度±(0.1%读数)
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶误差:±0.2%读数±2字
4. 主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm
5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ
7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。
四端测试法是目前较*之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.