Xper-IP激光干涉膜厚测量仪
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Xper-IP激光干涉膜厚测量仪是基于Nanobase公司*的光谱干涉技术的一款激光干涉膜厚仪，是一种非接触式、无损的、且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料（如各种薄膜，镀膜，显示面板等）的厚度。
韩国Nanobase公司是一家专注于激光和光谱测量领域的高科技公司，旗下有多种产品，包括拉曼光谱成像系统，OCT光学相干断层扫描系统，可调谐激光器和激光干涉薄厚测量仪。
Xper-IP激光干涉膜厚测量仪正是基于Nanobase*的光谱干涉技术的一款膜厚测量仪，是一种非接触式、无损的、且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料（如各种薄膜，镀膜，显示面板等）的厚度，产品具有以下特点：
精度 ±0.2 %
重复准度 ±0.003 %
超宽测量范围 10 mm to 1 mm
人性化软件，易于使用
性价比高
同时测量多层膜厚
结构坚固，适用于实验室和工业环境
参数
型号 | Xper-ITP（激光干涉测厚） | Xper-ISP（激光干涉测表面形貌） |
测量范围 | 100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波长范围，与光谱仪分辨率成反比) | |
准确度 | ±0.2 % | |
重复性 | 单点：0.01% full range（<100nm） 平均：0.003% full range（<30nm） | |
速度 | 激光：标准30pps，（大100，000pps） | |
光源 | 激光：SLD(840nm)
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