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高效率成像系统
荧光寿命成像或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度，这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度，还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。 可以通过使用脉冲源在时域中确定荧光寿命。 当荧光物质被超短脉冲激发时，时间分辨的荧光将呈指数衰减。 计数（）通常被用作荧光寿命的测量方法，因为它补偿了在源强度和单光子的脉冲幅度的变化。 更具体地说，TCSPC由单个光子雪崩光电二极管 （SPAD）记录相对于激发激光脉冲的单个光子的寿命。 重复记录多个激光脉冲，并在记录了足够多的事件后，研究人员能够建立所有这些记录的时间点上事件数量的直方图。 然后，可以将该直方图拟合到的指数寿命衰减函数的指数函数，并且可以相应地提取寿命参数。 Xper-FLIM配备了单光子雪崩二极管检测系统，可以提供低成本检测通道选项，从而为FLIM研究人员实现超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置显微镜或正置显微镜，满足其他应用需求。
高效率荧光寿命成像系统应用领域：
荧光寿命成像的原理：
高效率荧光寿命成像系统测试案例：
高效率荧光寿命成像系统规格参数：
| 显微镜 | - -反射LED照明器，用于明场 - -带有右手控制的机械X-Y - -自动控制的Z轴位置 - -包括主机架，平台板，控制箱，接口电缆，电源线 - -40倍物镜（其他选项：10倍，20倍，50倍和100倍） - -正置或倒置显微镜 |
| 扫描模块 | - -波长范围：400～1000 nm - -激光扫描模式：扫描 - -扫描范围：200μm×200μm（使用40倍物镜时） - -包括用于光学图像采集的15 MP摄像头（使用40X时，FOV：220μm×150μm） - -包含一个控制器（USB1.1） - -扫描速度：> 100行/秒 |
| 光源 | 皮秒脉冲二极管激光器和驱动器 -波长：390～700 nm -自由空间/耦合选择（可选） |
| 滤波片 | 选择与激光波长相对应的 - -波长范围：390～700 nm - -可在滤光镜盒中互换用于相应的激光器 |
| 机身 | - -1个插槽，用于连接激光中性密度（ND）滤镜或偏 - -2个用于连接或波片的插槽 - -1个插槽，用于连接可互换的滤波片套件 - -具有三个激光器空位。 - -可安装光纤耦合端口。 - -提供稳定的光束对准平台 |
| 探测器 | 光子检测效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效区域直径：50μm - 暗计数：<><><><25 cps（取=""> -NIM定时输出：50 ps - 脉冲后可能性：<> |
| 光源驱动 | -重复频率：31.25 kHz～80 MHz -触发：-1至+1 V电平（可调） -频率范围：10 Hz～80 MHz -同步输出：幅度<0.8> |
| 计数器 | 计时电路 - -检测通道：1或2 - -时间范围：25 ps - -触发：0～-1200 mV - -计数率：40 MHz - -标记：TTL x4 |
| 软件 | - -荧光寿命采集和成像 - -频谱数据导出格式：.txt，.csv - -2D映射数据导出格式：.spm，.csv |
