塞默飞红外显微镜IR-Microscope中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。

双光阑系统*减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。

可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。

塞默飞红外显微镜IR-Microscope技术参数：
1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察；
2.四位物镜，多可同时放置四个不同的物镜；
3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外；
4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱；
5.面扫描(Mapping)小步长1微米,具有*的可见光分辨能力。

塞默飞红外显微镜IR-Microscope主要特点：
1.*在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光；
2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域；
3.复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光；
4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴；
5.可变或固定厚度补偿物镜。