日立200kV球差校正透射电镜  电子显微镜

HF5000日立200kV球差校正透射电镜 电子显微镜

参考价: 订货量:
35000000 3000000

具体成交价以合同协议为准
2024-01-08 19:40:27
315
属性:
产地:进口;仪器种类:场发射;
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产地
进口
仪器种类
场发射
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上海斯迈欧分析仪器有限公司

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产品简介

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角可达2.0sr;具备TEM、STEM,SEM和电子衍射等多种图像观测模式;镜筒和样品台经过了重新设计,显著提升了仪器的性能和稳定性......HF5000将是材料学、生命科学、半导体制造、石油煤炭等研究

详细介绍

日立200kV球差校正HF5000透射电镜特点:
标配日立生产的照射系统球差校正器(附自动校正功能)
搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪
镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升
观察像差校正SEM/STEM图像的同时观察原子分辨率SE图像
采用侧面放入样品的新型样品台结构以及样品杆
支持高立体角EDX*的对称配置(对称Dual SDD*)
采用全新构造的机体外壳盖
配备日立生产的高性能样品杆*


像差校正SEM图像/STEM图像 同时观察
配有标配二次电子检测器,可同时观察像差校正SEM/STEM图像。通过同时观察样品的表面和内部结构,可以掌握样品的三维构造。
在像差校正SEM图像中,除了可以通过校正球差来提高分辨率之外,还可以获取更真实地样品表面图像。

高辉度冷场FE电子枪×高稳定性×日立制球面像差校正器
以长年积累起来的高辉度冷场FE电子源技术为基础,进行优化,进一步实现电子枪的高度稳定性。
此外,还更新了镜体,电源系统和样品台,以支持观察亚Å图像,并提升了机械和电气稳定性,然后与日立公司的球差校正器结合使用。
不仅可以稳定地获得更高亮度更精密的探头,而且自动像差校正功能可以实现快速校正,从而易于发挥设备的固有性能。使像差校正可以更实用。

支持高立体角EDX*的对称Dual SDD*
支持双重配置100 mm2 SDD检测器,以实现更高的灵敏度和处理能力进行EDX元素分析。
由于第二检测器位于检测器的对面位置,因此,几乎不会因为样品倾斜,导致X射线中的信号检测量发生变化。所以,即使是结晶性样品,也不用顾忌信号量,可按照样品的方向与位置进行元素分析。
此外,对于电子束敏感样品、低X光辐射量的样品,除了原子列映射,在低倍、广视野的高精细映射等领域也极为有效。

日立200kV球差校正HF5000透射电镜像差校正SEM图像/STEM图像 同时观察
配有标配二次电子检测器,可同时观察像差校正SEM/STEM图像。通过同时观察样品的表面和内部结构,可以掌握样品的三维构造。
在像差校正SEM图像中,除了可以通过校正球差来提高分辨率之外,还可以获取更真实地样品表面图像。




 

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