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Niton尼通手持式出口消费品分析仪
¥300000Niton手持式元素分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000Niton手持式矿石分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000尼通手持式环境分析仪 NitonX荧光光谱仪
¥300000Niton手持式合金分析仪 尼通X荧光光谱仪
¥300000尼通手持式X荧光光谱仪 NitonXRF分析仪
¥300000尼通Niton手持式XRF荧光光谱分析仪
¥300000Niton手持式X荧光光谱仪 尼通XRF分析仪
¥300000奥林巴斯手持式XFRF光谱仪Vanta Element-S
¥100000奥林巴斯手持式XRF 便携式X荧光光谱仪
¥100000奥林巴斯手持式XRF分析仪 X荧光光谱仪
¥100000奥林巴斯 XRF X荧光光谱仪
¥300000RoHS指令专用-能量色散小焦点X射线荧光仪简介:
在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司新推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等。
RoHS指令专用-能A量色散小焦点X射线荧光仪技术参数:
激发
- Mo 靶X光管
功率:30W,电压:48kV
- 测量点尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
样品室
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)
- 手动调节样品台,样品定位简便
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台,
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高),
样品重量:3kg/6.6 lbs
计算机
- 外置式计算机系统,Windows
操作系统,
- 键盘,鼠标,显示器,打印机
- 菜单式软件,光谱仪参数调整和
数据评估及计算,元素成分及分布显示
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线,在测量计数率为
10,000脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250,000 cps
光谱仪数据
- 电压:95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光谱仪能耗:200W
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高,单位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置
分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测
环境条件
- 周围环境温度:5-30°C (41-85°F)
在20-25°C (68-77°F)下,可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %,无冷凝,无蒸气腐蚀,防尘
主要特点:
SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是推出的第三代产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。