理学组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列简介：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

理学组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列技术参数

1. X射线发生器功率为3KW

2. 测角仪为水平测角仪

3. 测角仪最小步进为1/10000度

4. 测角仪配程序式可变狭缝

5. 高反射效率的石墨单色器

6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）

7. 小角散射测试组件

8. 多用途薄膜测试组件

9. 微区测试组件

10. In-Plane测试组件

11. 高速探测器D/teX-Ultra

12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC

13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要特点：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析