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X荧光镀层测厚仪金属镀层
¥125000SDD探测器ROHS检测仪器
¥128000ROHS1.0卤素机EDX系列
¥125000RoHS检测分析地矿与合金
¥125000快速热裂解RoHS检测仪2.0邻苯四项
¥145000气相色谱(GC)的分离功能和质谱(MS)的检测
¥1650000气相色谱质谱联用仪ROHS2.0
¥150000RoHS检测仪ROHS2.0
¥145000能量色散X荧光光谱仪ROHS检测仪器
¥140000应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素
¥125000RoHSEN71等环保指令检测仪器
¥125000手持便携式X荧光有害元素分析仪
¥145000产品介绍
矿石光谱分析仪是使用X射线照射试样,对产生的X射线荧光进行解析,用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷,精度高,成本低等特点,已经在很多行业得到广泛的应用。尤其在地质矿产行业,其应用更得到客户的认可。
天瑞仪器生产的3600K\\SUPER2400\\EDX4500H台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪,就是在地质矿产行业应用非常成功的几款光谱仪器,它们具有以下特点:
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素,并达到测量精度要求。
2、台式系列X荧光光谱分析仪是能量色散的设备,其结构简单,可靠性高,对环境要求较低,可以使用在生产一线,并对操作人员的要求也很低。维修方便,维护成本很低。
3、 它采用进口上*的UHRD探测器,分辨率可达到128eV以上,并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。便携式Pocket系列分辨率可达到180±5eV。
4、 台式系列X荧光光谱分析仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从Na到U,便携式GENIUS系列可分析元素范围从MY到U。
5、 它们是非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
6、 由于台式系列X荧光光谱分析仪产品测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。其系列产品的分析精度低于0.05%,检出限可高达2ppm(不同的样品其指标有所不同)。
7、 可以一次分析二十四种元素,并且同时报告结果。在实际应用中,对主元素与参考元素可以同时分析,这非常适合一线生产工艺指导的要求,同时对产品失效快速分析提供依据。
8、 测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种*的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
9、 便携式系列X荧光光谱分析仪(Genius7000)坚固耐用、稳定可靠、使用灵活、校准方便等特点,专业化PDA测试软件使在测试时高灵敏度、蓝牙通讯、高速度、多模式多元素自动定性定量分析,便携、方便使用,便于客户在现场分析和原位分析。
Genius7000型便携式光谱矿石分析仪
产品概述
Genius 7000 XRF系列是专门针对在现场、野外进行X荧光分析应用而设计的仪器,可充分满足检验地质样品、岩芯、原矿、废弃物、精矿、尾矿的现场分析,对各类样品进行快速识别和成份分析鉴别。具有体积小,重量轻,普通人可手持测量的特点;
该系列设备采用X射线荧光分析技术,具有超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点,使仪器检出限更好,稳定性更高,适用面更广。
设备均通过严格检测和验证,各项指标均符合相关技术要求,技术达*水平;可满足各类用户对地质及矿产的需求。
优势特点
重量轻,坚固耐用,适用于任何现场环境及天气条件
采用嵌入式软件系统,数据传输与显示刷新速度更快,系统不会感染病毒,保障数据安全,系统更稳定
彩色液晶显示屏可以实现上下90度和左右270度旋转,户外使用时可防止屏幕反光,方便任何角度进行数据观察,使数据查看更清晰
可分析元素38种,分析速度快、可靠、为现场快速决策提供依据
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,方便用户现场和追溯
提供额外的车载充电器,使户外工作更方便
具有*的三重安全防护功能:自动感应,没有样品时仪器停止工作,无射线泄漏;采用加厚的铅皮防辐射壁;同时配备防护安全罩,进一步减少测试过程中散射射线,使操作者更安全。辐射防护射线泄露剂量率指标远远低于GB5208.1-2005《微计量X射线安全检查设备》中的“在距离设备外表面5cm的任意处(包括设备的入口、出口处),X射线泄露剂量率应小于5μSv/h”的要求
内置定位接收系统(GPS),方便检测定位
用于品位控制、矿业生产和近矿勘探,充分挖掘矿山价值,是矿山开采的理想选择
性价比高,实用经济型
EDX4500H型光谱矿石分析仪
光谱矿石分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
高效超薄窗X光管,指标达到*水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术参数
产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素).