Thick8000型X射线膜厚测试仪

产品介绍

x射线膜厚测试仪是一款快速、无损、的电镀城厚度测试仪器，主要用在镀锌（Zn）、镀镍(Ni)、镀锡(Sn)、镀金(Au)、镀银(Ag)等金属镀层厚度测测试，薄可测试0.005μm，为企业严格控制产品质量，防止镀的过厚（增加产品成本）或者过薄（产品不合格）带来的损失，天瑞仪器Thick8000x射线膜厚测试仪是新研发生产的一款x射线膜厚测试仪器，精密的三维移动平台和高清摄像头满足了微小产品的测试，产品在行业内得到了广泛的应用和认可，打破了国外垄断的局面。

天瑞x射线膜厚测试仪技术指标

X射线激发源：5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源
探测器及分辨率：SDD探测器，分辨率140±5eV
定位精度：0.001mm
测量时间：10s及以上
样品平台移动范围：120mm×120mm
样品腔升降平台移动高度：0～150mm

天瑞x射线膜厚测试仪硬件

主机壹台，含下列主要部件： 
(1)微焦斑X光管                 
(2)大面积SDD电制冷半导体探测器
(3)数字多道分析器
(4)超高精度三维移动平台
(5)全景和局部两个工业高清摄像头
(6)高低压电源
(7)激光定位装置及图像自动对焦技术
(8)开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩
(9)电动调节准直器
(10)防撞激光保护器

资料：仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。

标准附件
准直孔：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种（已内置于仪器中）