X射线镀层膜厚测量仪

X射线镀层膜厚测量仪

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具体成交价以合同协议为准
2020-04-13 16:28:13
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深圳市天瑞仪器有限公司

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产品简介

X射线镀层膜厚测量仪是一种功能强大的金属镀层测量仪器,同时可以测试镀金,镀镍,镀锡,镀锌,镀铜,镀铑,镀钯等镀层厚度,多可以测5层,为产品质量控制提供准确、快速的分析,是线路板...

详细介绍

产品介绍

 

X射线镀层膜厚测量仪是一种功能强大的金属镀层测量仪器,同时可以测试镀金,镀镍,镀锡,镀锌,镀铜,镀铑,镀钯等镀层厚度,多可以测5层,为产品质量控制提供准确、快速的分析,是线路板,五金电镀,首饰,连接器,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

 

标准配置

 

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

性能特点

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

 

技术指标

 

型号:Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

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厂家优势

 

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