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X荧光镀层测厚仪金属镀层
¥125000SDD探测器ROHS检测仪器
¥128000ROHS1.0卤素机EDX系列
¥125000RoHS检测分析地矿与合金
¥125000快速热裂解RoHS检测仪2.0邻苯四项
¥145000气相色谱(GC)的分离功能和质谱(MS)的检测
¥1650000气相色谱质谱联用仪ROHS2.0
¥150000RoHS检测仪ROHS2.0
¥145000能量色散X荧光光谱仪ROHS检测仪器
¥140000应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素
¥125000RoHSEN71等环保指令检测仪器
¥125000手持便携式X荧光有害元素分析仪
¥145000产品介绍
天瑞新型X射线荧光分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点,采用25mm2大面积铍窗探测器,可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果*符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
测量对象状态:粉末、固体、液体
同时分析元素:30种元素同时分析
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
能量分辨率为:140±5ev
测量时间:60s-200s(可调)
制冷方式:电制冷,无需任何耗材
环境温度:10℃-30℃
环境湿度:35%-70%
输入电压:AC 110V/220V
管压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
样品腔尺寸:334×500×80mm
外观尺寸:670×533×855 mm
重量:80kg
性能特点
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试X荧光分析软件
与传统仪器相比,新增加的抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器,分辨率至139ev,更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器,直径小达0.2mm,轻松实现精小部位的测试
精选优质组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时,必须使用真空泵设备把空气抽出,使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵(选配)
极限真空:6×10-2 帕转速:1400 转/分 抽率:1 升/秒 功率:0.25 千瓦
标准配置
美国Amptek*SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、高效X光管
计算机、打印机、真空泵(选配)、稳压电源(选配)
软件:贵金属分析软件(标配)、镀层分析软件(选配)、有害元素分析软件(选配)
应用领域
黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等
天瑞仪器是X射线荧光分析仪生产厂家分析仪器上市公司。