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X荧光镀层测厚仪金属镀层
¥125000SDD探测器ROHS检测仪器
¥128000ROHS1.0卤素机EDX系列
¥125000RoHS检测分析地矿与合金
¥125000快速热裂解RoHS检测仪2.0邻苯四项
¥145000气相色谱(GC)的分离功能和质谱(MS)的检测
¥1650000气相色谱质谱联用仪ROHS2.0
¥150000RoHS检测仪ROHS2.0
¥145000能量色散X荧光光谱仪ROHS检测仪器
¥140000应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素
¥125000RoHSEN71等环保指令检测仪器
¥125000手持便携式X荧光有害元素分析仪
¥145000大气重金属分析仪产品介绍
EHM-X200大气重金属分析仪是天瑞仪器*的双功能全自动在线分析仪器。它创新地将技术——X射线荧光(XRF)无损检测技术、β射线吸收检测技术与空气颗粒物自动富集技术*结合,不仅可以监测空气颗粒物质量浓度, 还可以同时对颗粒物中元素成分进行定量分析。该仪器具有pg/m3 量级的检出限,处于*水平,广泛应用于空气质量监测、污染溯源及源解析、环境评价等领域。
大气重金属分析仪测量原理
仪器以恒定的工况流量将空气吸入颗粒物切割器中,以PM2.5为例,动力学直径在2.5um附近及以下的颗粒污染物进入到仪器的富集系统中。经过一段时间的富集后,富集系统自动切换成β射线分析系统,利用β射线的衰减与颗粒物的质量浓度成指数的关系,对颗粒物的质量浓度进行分析。然后卷膜系统地将富集有空气颗粒物的滤纸移动到X射线荧光分析系统,分别利用X射线荧光的能量和强度对颗粒物中的元素成分进行定性和定量的分析。
X射线荧光光谱技术(XRF)的原理见图3所示,可以直接检测固体或液体样品中ppm量级的元素成分。采用富集后再检测的办法,使得XRF技术对空气颗粒物中的重金属成分的检测限优于0.001ug/m3。而常规实验室的检测技术,由于预处理消解过程中需要将微克量级的样品溶解到几十克的液体中,而使得浓度被稀释百万倍,从而多数仪器(譬如ICP-AES、或原子吸收光谱仪)无法检出元素含量低于10ug/m3量级的空气颗粒物样品。
大气重金属分析仪性能特点
(1)空气颗粒物浓度、大气重金属浓度一体式协同测量,为污染溯源及源解析提供更精准数据;
(2)TSP、PM10、PM2.5三种切割器可供用户选择,应用于不同的环境评价场合;
(3)铅、镉、砷等30多种重金属含量测量,检出限在pg/m3量级;
(4)从光管、探测器、数字多道分析器(DCMA)到整机,数十项XRF核心技术发明;
(5)具有技术证书和测试报告,仪器的可靠性、准确性得到充分验证。
大气重金属分析仪技术参数
以下列出了大气重金属分析仪的一些重要技术参数(表1)。
表1 天瑞仪器 EHM-X200大气重金属分析仪技术参数
名称 | 性能参数及要求 |
检测技术 | (1)重金属的测量方法基于美国EPA方法IO-3.3的非破环性X射线荧光(XRF)原理; |
测试内容 | (1)可监测TSP/PM10/PM2.5空气颗粒物(PM)质量总浓度; |
测量结果 | 用户可以自由选择如下三种测量结果: |
检测范围 | 重金属,0~100μg/m3; |
检出限 | pg/m3量级 (采样时间4小时、流速16.7L/min); |
重现性 | 重金属,RSD < 1% (Pb的标准样片); |
采样分析时间 | 30~1440分钟连续采样,可自定义。采样流量(0~20)L/min 可调节,DHS 动态加热。采样与分析同时进行,无采样间隔。 |
采样滤膜 | 采样滤膜为PTFE滤纸材质,对0.3μm颗粒物的截留效率≥99.7% ,不含重金属元素成分; |
安全防护 | 辐射剂量符合《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》规定,具有相关部门X射线表面辐射剂量检测报告,距离机箱5cm处,辐射剂量小于2.5μGy/h; |
质控要求 | (1)仪器具备流量自动校准功能; |
分析软件 | (1)提供设备配套数据分析管理软件,开放通讯协议,可接入已有数采平台;中文操作界面,触摸屏操作,显示实时采样流量,采样时间,测量状态,重金属浓度值、含量曲线等信息。 |