便携式X荧光有害元素分析仪

Explorer 3000便携式X荧光有害元素分析仪

参考价: ¥125000~¥150000/台

具体成交价以合同协议为准
2024-09-20 15:07:46
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深圳市天瑞仪器有限公司

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产品简介

产品说明、技术参数及配置
探险者EXPLORER便携式X荧光有害元素分析仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的全新一代便携式XRF产品。EXPLORER3000便携式X荧光有害元素分析仪是天瑞仪器针对RoHS行业特别研发设计的便携检测分析仪。仪器引入数字多道技术,使检出限更低,稳定性更高,适用面更广,性能媲美台式机;

详细介绍

产品说明、技术参数及配置

探险者EXPLORER便携式X荧光有害元素分析仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的全新一代便携式XRF产品。EXPLORER3000便携式X荧光有害元素分析仪是天瑞仪器针对RoHS行业特别研发设计的便携检测分析仪。仪器引入数字多道技术,使检出限更低,稳定性更高,适用面更广,性能媲美台式机;小巧便携的体积使检测工作更简单、更轻松。
在欧盟玩具指令颁布实施后,天瑞XRF系列产品迅速成为玩具生产商进行玩具安全检测的有力保障。天瑞全新一代EXPLORER3000便携式X荧光有害元素分析仪使用更方便、应用更广泛。可用于电子元件与部件的材料生产;对电子零部件、原材料供应商进行第三方评估;对包装材料进行测试与验证;对各类电池进行有害物质测试与验证;以及各种玩具、文具、儿童用品、礼品的测试;对大体积部件进行无阻挡、无限制空间测试;对精细部件精确定位,以排除干扰;对贵重物品进行无损检测等等。

仪器应用领域优势
超大样品测试
当样品体积太大,且不能切割取样时,普通台式仪器无法对其进行RoHS等有害元素的有效测试,此时EXPLORER3000则可大显神通,直接对其表面进行测试,使用更方便快捷,大大提高了检测效率。
玩具样品测试
玩其样品多种多样,测试量大。重复取样,实验室测试时间过长。使用EXPLORER3000可进行现场测试,大大缩短了生产周期,节省了生产时间。
包装材料测试
玩具包装材料外形尺寸较大,样式较多,外层油墨较多。使用普通台式机无法快速、全面进行测试。EXPLORER3000可便携操作,任意选取检测点,操作更快更灵活,检测结果更准更全面
废旧电子电器回收
针对废旧电子电器产品回收与利用行业,EXPLORER3000可以对大量电子废料进行现场检测与快速分类。

RoHS行业应用
电子电器制造 
包装材料生产
废旧电子电器回收 
出入境检验检疫
机械制造与加工
玩具生产

六大性能优势

更便捷的操作
重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有专用仪器套,更易抓握,野外使用更方便。
270。可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。
密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。
无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可便携进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。

性能
无损快速检测,对准即测,一秒可报结果。性能堪比台式机,检测效果又快又准。
同时检测九大重金属有害元素:铬、砷、铅、溴、汞、镉、硒、锑、钡,并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。
超近光路设计,计数率提高5倍以上,大大缩短了测试时间。

更强劲的电力
选配超大27000mAh锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。
内置记忆电池,换电池不断电。

配置
微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。
采用超高主频及大内存,超大存储空间,可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术,保证每秒有效采谱计数可达500kcps。
准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。
800万高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量更加精准。

更安全的防护
智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度显示。通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。
三重安全防护功能:
a:自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。
b:采用加厚防护测试壁,有效防止散射。
C:配送防护安全罩,防周边轻基体散射。
安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,第一时间保护您的安全,守护最后关卡。

更智能的软件
EXPLORER3000便携式X荧光有害元素分析仪配有专门针对RoHS行业的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作简易等特点。
全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家模式)。用户模式一键测试样品成分;专家模式可进行增加元素,增加特定曲线等深入分析操作。
内置强度校正方法,校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。


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