全自动微区膜厚测试仪

EDX 2000A全自动微区膜厚测试仪

参考价: ¥150000~¥210000/台

具体成交价以合同协议为准
2024-09-20 15:27:10
188
属性:
测量范围:Fast-SDD探测器;产地:国产;类型:镀层;
>
产品属性
测量范围
Fast-SDD探测器
产地
国产
类型
镀层
关闭
深圳市天瑞仪器有限公司

深圳市天瑞仪器有限公司

中级会员5
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

产品说明、技术参数及配置
EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

详细介绍

产品说明、技术参数及配置

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

应用领域
电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等

超高硬件配置
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

设计亮点
上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。

软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。


上一篇:镀层测厚仪的具体操作流程介绍 下一篇:品质管控 | JPSPEC镀层测厚系列在汽车零部件镀层分析中的应用优势
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: