TMS-PRO和TMS-D透过率测量仪能快速准确地测量各类Pad面板的透过率，可用于同一面板多个小孔测量，实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率等。

透过率测量仪特点：

• 采用大角度采集全穿透式测量
• 采用数字视频对焦，使微小区域实现准测量
• 实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测，自动调整显示坐标范围，可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析
• 可自定义测量方案，设置判定标准，自动判定“OK”和“NG”，使检测更快速，结果更准确
• 高性能探测器，单次测量小于1秒，重复性高
• 可对多孔进行快速测量
• 小测量孔径可达φ0.3mm

应用范围：

• 面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量
• 弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量
• 太阳膜、滤光片光学元件透光测量

  技术参数：

  型号		TMS-PRO	TMS-D-Ⅰ	TMS-D-Ⅱ
  测量系统		全光谱	全光谱	全光谱
  检测器		Hamamatsu薄型背照式CCD	Sony线形CCD 阵列	Hamamatsu薄型背照式CCD
  检出限		0.05%	0.1%	0.05%
  光度准确性		0.5%	0.5%	0.5%
  光度重复性		0.2%（420~950nm）	0.5%（420~950nm）	0.2%（420~950nm）
  波长检测范围		380-1100nm	380-1000nm	380-1100nm
  信噪比（全信号）		450:1	250:1	450:1
  波长重复率		0.1nm
  样品测试平台		X、Y轴可调
  光源		高功率卤素光源
  光斑直径		＞0.2~1mm（可选）
  样品大小		≥0.3mm
  测量时间		＜0.2s
  对焦方式		数字相机视频对焦
  物镜		10X
  软件		Qspec Suite V1.0，可显示单、多点波长数据，可手动和自动保存数据，自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出，超差报警提示，可根据用户标准校准机差。
  操作系统/接口		Windows 7~Windows 10/USB2.0