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SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。
测量参数
应用领域
产品优势
产品参数
| 系统配置 | |||||
| 配置方案 | 方案1 | 方案2 | |||
| 光谱仪 | 型号 | QEPro / QE65Pro（可选） | |||
| 光谱范围(nm) | 350-1100 | ||||
| 信噪比 | 1000:01:00 | ||||
| 分辨率 | 2.5 nm (FWHM) | ||||
| 动态范围 | 85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集） | ||||
| AD位数 | 18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro） | ||||
| 积分球 | 尺寸 | 3.3” | 1.5” | ||
| 材质 | Spectralon | ||||
| 源表 | Keithley2400 | ||||
| 光纤 | 芯径 | 1000um（可更换其他芯径） | |||
| 校准灯 | 角度 | 2 Pi | 型号 | HL-3-INT-CAL | |
| 亮度 | 50 流明 | 功率 | 5W（电功率） | ||
| 无线遥控 | 通道数 | 4 | 无遥控 | ||
| 软件 | SpectrumTEQ-EL专用软件 | ||||
