Si PIN探测器
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产品指标 | XPIN-XT系列 | XPIN-BT系列 |
面积 | 6 mm2 或 13 mm2 | 6 mm2 或 13 mm2 |
硅片厚度 | 625μm | 625μm |
铍窗厚度 | 8μm 或 25μm | 8μm 或 25μm |
准直器材料 | W/Co/Ti/Al | W/Co/Ti/Al |
能量分辨率 | 6 mm2 < 170eV FWHM | 6 mm2 < 170eV FWHM |
13 mm2: < 230eV FWHM | 13 mm2: < 230eV FWHM | |
峰背比 | 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) | 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) |
13mm2: 3000/1 @1keV (typical) | 13mm2: 3000/1 @1keV (typical) |
特点 | 带给用户的好处 |
能量分辨率高 | 更容易区分不同的材料,不同的元素 |
Be窗厚度薄 | 有利于测量轻元素 |
探测器硅片更厚,计数率高 | 有利于测量重元素 |
尺寸小,梯形外形设计,结构紧凑 | X光管,探测器和样品可以更紧密贴在一起 |
封装形式多样 | 用户的选择性更大 |
Moxtek公司生产的X射线窗产品是当前世界上商用产品中性能的,适用于分析低能的X射线,对低能量的X射线有很高的透过率。 |
特点 | 带给用户的好处 |
薄的聚合物窗口 | 对低能量射线有很高的透过率 |
硅材料支撑结构 | 机械强度高,耐久性好 |
全部反射紫外,可见和红外光 | 噪声很低 |
双层镀膜 | 耐腐蚀,密封性好 |
厚度均匀 | 窗口的透过率的*性很好 |
材料的纯度很高 | 不会污染入射光光谱 |