UM超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，X射线检测设备通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01，超声波测厚仪具有小厚度值。捕捉模式：可选择显示当前厚度值或小厚度值；数据存储；报警功能。

UM超声波测厚仪功能特点与技术参数

工作原理：脉冲～回波方式

测量范围：0.8～300mm，取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率：毫米-0.01，0.1；英寸-0.001，0.01

探头零点校准：一点校准（用于常规的厚度测量）

两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）

V路径修正：自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度

示值误差：±0.05mm(10mm以下)

±0.5%H+0.01(10mm以上)注：H为被测物厚度

重复性：±0.05mm

显示屏：128×64点阵液晶屏（42×57毫米）

具有EL背光，可调节对比度

厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率：常规测量时4Hz，小值扫查时25Hz

材料声速范围：1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

数据存储：划分5个数组，可存储500个厚度值

工作语言：中文、英文

电源：两节1.5VAA电池（当电池电量不足时，有低电压提示）

操作时间：两节5号电池，使用时间可达200小时

自动关机：5分钟无操作后自动关机

工作温度：-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃

尺寸：149mm×73mm×32mm(H×W×D)

重量：含电池200g

标准配置：UM系列测厚仪；标配探头；仪器箱；两节碱性电池；