-
半导体参数测试仪
半导体参数测试仪 自动完成多路硅微条探测器中多条探测单元的I-V特性、C-V特性、击穿特性等参数测量，无需人工一点一点的测量。 参考价面议 -
半导体SiC动态参数测试仪
半导体SiC动态参数测试仪 小电流i-v ： 超低漏电流（fA），最 大电压200V，最大电流1A； 参考价面议 -
半导体分立器件静态式参数测试仪
半导体分立器件静态式参数测试仪 适合于大多数参数测试 4.c-v单元： 能够在1MHz下测量10pF电 容，准确度达1%。 参考价面议 -
ITC57300 分立器件动态参数测试系统
ITC57300 分立器件动态参数测试系统 半导体二极管：锗二极管、硅二极管、化合物二极管等； 参考价面议 -
ITC57300IGBT 分立器件动态参数测试系统
ITC57300IGBT 分立器件动态参数测试系统 可以分为模拟集成电路板和数字两大类.按制作工艺可分为半导体和薄膜。 参考价面议 -
齐全液态冷热冲击试验机
液态冷热冲击试验机 冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业备的测试设备， 用于测试材料结构或复合材料 参考价面议 -
供应液态冷热冲击试验箱
供应液态冷热冲击试验箱 用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。 参考价面议 -
ITC57300半导体分立器件动态参数测试系统
ITC57300半导体分立器件动态参数测试系统 按集成度高低的不同可分为小规模、中规模、大规模和超大规模集成电路。 参考价面议 -
ITC57300 IGBT半导体分立器件动态参数系统
ITC57300 IGBT半导体分立器件动态参数系统 是一种用于工程与技术科学基础学科领域的仪器。是一种用于工程与技术科学基础学科领域的仪器。 参考价面议 -
原子层沉积表面改性设备仪分子涂层
原子层沉积表面改性设备仪分子涂层 适用于学术、产业、研发的热和/或等离子体化学产品适用于学术、产业、研发的热和/或等离子体化学产品 参考价面议 -
原子层沉积表面改造提升处理系统设备
原子层沉积表面改造提升处理系统设备 高k栅极氧化物
存储电容器绝缘层-铜连线间的高纵横比扩散势垒区 参考价面议 -
薄膜热导率测试系统
薄膜热导率测试系统 导热系数是建筑材料最重要的热湿物性参数之一，与建筑能耗、室内环境及很多其他热湿过程息息相关。 参考价面议