ATX200N氧化膜测厚仪概况

ATX200N氧化膜测厚仪配置嵌入式传感器，采用电涡流法，可用于无损测量非磁性基体上非导电涂层厚度，符合以下工业规范和标准： GB/T 4957非磁基体上非导电覆盖层覆盖层厚度测量涡流法， JB/T 8393磁性和涡流式覆层厚度测量仪 DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、稳定，简单、可靠、可用于现场快速测量等特点，配置集成测量探头，可无损、快速、精密地进行非磁性金属表面非导电涂层厚度测量，易于操作，广泛应用于工业、船舶、桥梁、航空、工程、化工等领域。

ATX200N涂层测厚仪原理

ATX200N氧化膜测厚仪的工作原理是当测头靠近金属基体时，由于高频交变电流在线圈中产生了电磁场，金属基体会形成电涡流并对线圈产生反馈，随后通过测量反馈量的大小可推导出相对应的厚度值。

测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)

ATX200N氧化膜测厚仪仪技术参数

l  测量范围:0-1250um(0-50mil)

l  分辨率:0-999um;0.1um          ≥1000um;1um

l  精度:≤100um;±2um          101-1250um;≤2.5%

l  数据存储:500 条

l  显示:带背光点阵液晶屏(128X64)

l  电源:1.5VX3(AAA 干电池)

l  使用温度:0-50°C

l  规格:128X51X31 mm

l  重量:110g

ATX200N氧化膜测厚仪基本配置