文物CT检测扫描分析系统
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文物CT检测扫描分析系统
文物CT检测扫描分析系统主要分为高能量CT和微焦点CT。CT是基于计算机断层扫描技术,对文物进行2D,3D检测。
应用主要有六个方面:
●对文物内部结构及形貌进行无损扫描并分析;
●对文物的起源,制作工艺、产地和用途提供重要信息;
●对文物的内部结构及尺寸进行二维、三维的测量;
●对文物的穿孔内壁,镶嵌加工痕迹数据分析,及数据库的建立;
●高精度获取与解读文物的三维信息,并可实现逆向工程;
●相位成像功能。
相对优势:
●开放式微焦点射线管,分辨率高,检测更精确。
●设备设计紧凑,配置灵活,可满足客户多种要求。
●运行稳定,安全可靠。
●扫描速度快,图像重建速度快。
结构设计简约紧凑,是一套配置灵活、可满足多种检测需求的高分辨率 X 射线工业 CT 系统,具有成像分辨率高、扫描速度快、功能丰富、操作方便、运行稳定、使用及维护成本低等特点。
该系统可以配备160kV以上微米级分辨率X射线源,也可配置高能量开放式微焦点射线源,zui高能量达到300KV,JIMA分辨率zui小可达到0.5微米。