1.1 设备名称：双层型恒温恒湿试验箱

1.2 设备型号：ATH-X4182

1.3 内部尺寸： 300×250×400*2层(W×D×H)

1.4 外部尺寸： 1020×1200×1680 mm (W×D×H)

1.5 温度范围：-40℃～+180℃

湿度范围：10%～98%R.

1.6 升温速率：-40℃～+180℃：≥3℃/min（全程平均）

降温速率：+180℃～-40℃：≥1℃/min（全程平均）

1.7 温度波动度：≤±0.5℃

湿度波动度：≤±3%RH

1.8 温度均匀度：≤2.0℃

湿度均匀度：≥75%RH时 均匀度≤±3%RH

≤75%RH时 均匀度≤±5%RH

1.9温度偏差: ≤±2.0℃

1.10满足标准：GB/T 5170.2-2008 温度试验设备GB/T 5170.5-2008湿热试验设备

GB/T 10586-2006《湿热试验箱技术条件》

GB/T 10589-2008《低温湿热试验箱技术条件》

GB/T 10592-2008《高低温试验箱技术条件》

GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验方法试验A：低温试验方法》

GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验方法试验B：高温试验方法》

GB/T 2423.3-2006《电工电子产品环境试验方法恒定湿热试验方法》

GB/T 2423.4-2008《电工电子产品环境试验方法交变湿热试验方法》

JJF 1101-2003 《境试验设备温度、湿度校准规范》

备注：1.以上性能指标指在无负荷、无试料，周围环境温度为25±2℃条件下测量的数据