TSI 1NM扫描电迁移粒径谱仪特点与优势快速获得粒径和数量浓度的高分辨率数据优化使扩散损失小1至50nm间>109个配合3081A长DMA差分静电迁移分析仪使用，可测量从1nm到1µm 3个粒径数量级的粒子模块化组件设计，可以根据用户测量需求定制，例如单独使用1nm CPC等。内置诊断和自动检测系统组件，可以获得可靠和可重复的测量数据。易于安装和使用的气溶胶仪器管理器（AIM）软件。多功能的粒子测量方式：适用于多模样 TSI 1NM扫描电迁移粒径谱仪产品详情1纳米SMPS系统结合了TSI在粒子分级和计数方面的传统优势，并采用了能够测量小于1纳米粒子的新技术。优化后的3086型差分静电迁移分析仪能够进一步降低了这些微小粒子的扩散损失。3757型纳米增强仪介于DMA和标准CPC之间，采用二甘醇对1纳米粒子预生长，进而实现CPC检测。新的纳米增强仪设计加强了CPC与纳米增强仪的集成性，使系统的设置和使用更加容易。研究人员通过使用这些仪器，可以将粒子研究推向令人兴奋的新领域。关键应用包括：大气研究 -监测新的粒子形成和动力学、云凝聚，并缩小质谱仪与常规粒子粒径分布测量之间的差距。非常适合高污染城市中的亚3nm粒子和粒子源研究以及健康影响因素研究材料科学 - 系统可以可靠的近实时反馈监测和表征亚3nm粒子，非常适合基于气溶胶的工程纳米粒子合成、纳米粒子功能化、纳米分析化学、反应动力学控制和催化剂合成。1nm SMPS不仅仅是能观察1nm以上成核的检测器，还是全面的粒子光谱仪，能够以*的分辨率显示了这些事件中的粒径分布情况。组件的模块化非常便于用户根据测量需求定制系统：节省您的时间和金钱。如果您已经拥有一套配备了3750 型CPC的3938系列SMPS系统，您只需再增加一台1NM DMA差分静电迁移分析仪和纳米增强仪，无需调整您的分级器和高级中和器，且您将免费更新到新版本的AIM软件。 TSI 1NM扫描电迁移粒径谱仪应用基础气溶胶研究通过粒子源（如火焰合成、激光烧蚀、火花产生和成核/凝结）研究粒子成核和粒子生长。燃烧和发动机排气研究（有机燃料、低于3nm的排放、天然气发动机、塑料成型和焊接过滤研究吸入或暴露室研究*健康影响因素研究*功能和优点中的介绍基于下列假设：SMPS光谱仪包含3082型分级器、1nm DMA差分静电迁移分析仪、3757型纳米增强仪和3750型凝聚核粒子计数器等组件。