X荧光光谱仪系列放出的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。

X荧光光谱仪系列特点

探测器采用半导体探测器，能量分辨率优于149ev；
真空测量，大限度的提高测量元素的检测限，有利于卤素测量；
自动调整光管功率，对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果；
圆形品仓设计，适应于各种样品的检测，可以测量固体、液体、粉末；
开放式工作曲线标定平台,可量身定做有害物质检测和控制方案；
采用XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
采用模式识别及数据库技术，实现仪器分析智能化； 
配置滤光片装置大幅提高峰背比； 
校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。
可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。 
一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高； 
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；