涂层测厚仪MINITEST 720/730/740

-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的***性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

SIDSP技术-***技术，智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势

涂层测厚仪MINITEST 720/730/740采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，***的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界***技术生产。

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您***的涂层厚度值。此项***的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理***的信号质量和***度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。