LW400JT芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。

LW400JT芯片检查显微镜特点：

1.  配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)，视场大而清晰。

2. 配置大移动范围的载物台，能快速和慢速移动。

3.粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带锁紧和限位装置，微动格值:2μm。

4. 6V 20W卤素灯,亮度可调。

5. 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行透光摄影

主要技术参数：

1、三目镜筒：倾斜30 °，瞳距55mm-75mm，视度±5°

2、目镜：WF10X/18mm

3、长距平场消色差物镜(无盖玻片)

PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、总放大倍数：50X-800X

5、载物台：尺寸: 280mm×270mm,移动范围: 204mm×204mm

6、调焦：粗微动同轴 升降范围25mm ,微动格值0.002mm

7、光 源：柯勒照明 滤色片座 可调卤素灯6V20W

8、正交偏光装置