XDL / XDLM / XDAL

凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

XDL台式测厚仪特性：

·         X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

·         由于测量距离可以调节（较大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

·         通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

·         使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量较薄镀层（XDAL 设备）

XDL台式测厚仪应用：

镀层厚度测量

·         大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

·         电路板上较薄的导电层和/或隔离层

·         复杂几何形状产品上的镀层

·         铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

·         氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

·         电镀槽液分析

·         电子和半导体行业中的功能性镀层分析

苏州优仪惠测仪器有限公司经过长年的实践积累，广泛的厂家合作，具备了一支在材料分析仪器领域从业多年的专家队伍，能为客户提供售前咨询、设计选型、安装调试、售后保障等一站式服务。主要服务产品有：手持式光谱仪、火花直读光谱仪、材料拉伸试验机、冲击试验机，试验机，三坐标，金相显微镜等产品。