CMS2台式测厚仪

COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。

CMS2台式测厚仪特性：

·         使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），精确地测量多镀层的厚度

·         图形显示的交互方式，易于操作

·         适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度

·         提供全面的附件产品供您选择，可满足特定需求

应用：

·         金属和非金属底材上任何类型的金属镀层

·         单层或多层的镀层厚度测量

·         特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量

·         适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量

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